15101169516
产品中心
Product Center
产品简介
HAAS-2000 高精度快速光谱辐射计（实验室级）的快速光谱辐射计。*美国IESNA LM-79和中国GB/T 24824等标准要求。 可实现LED的瞬态光学特性测量（脉冲测量）及稳态光学特性测量（直流测量）。 国家863计划研究成果，获美国授权（号：US 7,978,324 B2），“*批自主创新产品"，“国家重点新产品"荣誉。
product
产品分类HAAS-2000 高精度快速光谱辐射计（实验室级）
一、产品选型表：
规格 项目 | HAAS-2000 | ||||||
UV | VIS | UVIS | VIR | UVIR | IR1 | IR2 | |
波长测量范围 | 200-400nm | 380-780nm | 200-800nm | 350-1100nm | 200-1200nm | 780-1650nm | 1500-2550nm |
光学带宽 | 1nm | 2.0nm | 4nm | 4nm | 5nm | 9nm | 15nm |
波长准确度 | ±0.1nm | ±0.3nm | ±0.3nm | ±0.3nm | ±0.3nm | ±0.5nm | ±3nm |
二、基本工作原理：
世界*高精度快速光谱辐射计一般由凹面平均衍射光栅和科学级CCD构成，世界上也只有极少数制造商能够提供如此高精度的CCD和光栅。然而实践证明即便是世界*的商用凹面平场衍射光栅和世界*的商用科学级CCD，在系统光学耦合匹配方面仍存在一定不足，远方公司在高精度快速光谱仪方面积累了丰富经验，改良了CCD与光栅的匹配设计，使整个系统的光学匹配更趋*，系统所获得的光谱更纯，线性更好。此外，远方公司采用的杂散光控制技术、宽动态线性技术、精密CCD电子驱动技术和复变矩阵软件技术，并成功应用了带通色轮校正技术（BWCT）、分光积分结合技术（SBCT），以及修正的NIST杂散光校正技术等多项技术，整个系统实现了*的5.00E-05的极低杂散光水平（在A光源严格条件下）和0.3%的全动态光度线性性能。关键技术指标在处地位。
HAAS-2000 高精度快速光谱辐射计（实验室级）
当前位置：
上一个：
返回列表
